磷化铟(InP)
高电场下,电子峰值漂移速度高于GaAs中的电子,是制备超高速、超高频器件的良好材料;
InP作为转移电子效应器件材料,某些性能优于GaAs
InP的直接跃迁带隙为1.35 eV,正好对应于光纤通信中传输损耗最小的波段;
InP的热导率比GaAs好,散热效能好
InP是重要的衬底材料:制备半绝缘体单晶
InP Wafers Specification
Type 导电类型 | Semi-Insulated | N-Type | P-Type | NP Type |
Dopant 掺杂元素 | Fe | S, Sn | Zn | Undoped |
Growth Method 长晶方式 | VGF | |||
Diameter 直径 | 2″, 3″, 4″, 6″ | |||
Orientation 晶向 | (100)±0.5° | |||
Thickness 厚度 (µm) | 350-675um ±25um | |||
OF/IF 参考边 | US EJ | |||
Carrier Concentration 载流子浓度 | – | (0.8-8)*1018 | (0.8-8)*1018 | (1-10)*1015 |
Resistivity 电阻率 (ohm-cm) | >0.5*107 | – | – | – |
Mobility 电子迁移率 (cm2/V.S.) | >1000 | 1000-2500 | 50-100 | 3000-5000 |
Etch Pitch Density 位错密度(/cm2) | <5000 | <5000 | <500 | <500 |
TTV 平整度 [P/P] (µm) | <10 | |||
TTV 平整度 [P/E] (µm) | <15 | |||
Warp 翘曲度 (µm) | <15 | |||
Surface Finished 表面加工 | P/P, P/E, E/E |
磷化铟(InP)
磷化铟(InP)是重要的III-V族化合物半导体材料之一,是继Si、GaAs之后的新一代电子功能材料。
由于InP在熔点温度1335±7K时,磷的离解压为27.5atm, 因此InP多晶的合成相对比较困难,单晶生长也困难得多,整个 过程始终要在高温高压下进行,所以InP单晶就难获得,而且在高温高压下生长单晶,其所受到的热应力也大,所以晶片加工就很难,再加上InP的堆垛层错能较低,容易产生孪晶,致使高 质量的InP单晶的制备更加困难。
所以目前相同面积的InP抛光 片要比GaAs的贵3~5倍。而对InP材料的研究还远不如Si、GaAs 等材料来得深入和广泛。
高电场下,电子峰值漂移速度高于GaAs中的电子,是制备超高速、超高频器件的良好材料;
InP作为转移电子效应器件材料,某些性能优于GaAs
InP的直接跃迁带隙为1.35 eV,正好对应于光纤通信中 传输损耗最小的波段;
InP的热导率比GaAs好,散热效能好
InP是重要的衬底材料:制备半绝缘体单晶
与GaAs材料相比,在器件制作中,InP材料具有下列优势:
1InP器件的电流峰-谷比高于GaAs,因此,InP器件比GaAs 器件有更高的转换效率;
2惯性能量时间常数小,只及GaAs的一半,故其工作频率的 极限比GaAs器件高出一倍;
3热导率比GaAs高,更有利于制作连续波器件; 4基于InP材料的InP器件有更好的噪声特性;
InP作为衬底材料主要有以下应用途径:
光电器件,包括光源(LED、LD)和探测器(PD、 APD 雪崩光电探测器)等, 主要用于光纤通信系统。
集成激光器、光探测器和放大器等的光电集成电路(OEIC)是新一代 40Gb/s通信系统必不可少的部件,可以有效提升器件可靠性和减小器件 的尺寸。
InP的禁带宽度为1.34eV,InP高转换效率的太阳能电池,具有高抗辐射 性能被用于空间卫星的太阳能电池,对未来航空技术的开发利用起着重 要的推动作用。
电子器件包括高速高频微波器件(金属绝缘场效应晶体管 MISFET 、HEMT高电子迁移率晶体管 和HBT异质结晶 体管 )
InP基器件在毫米波通讯、防撞系统、图象传感器等新的 领域也有广泛应用。
目前,InP微波器件和电路的应用还都主要集中在军事领 域,随着各种技术的进步,InP微电子器件必将过渡到军 民两用,因此InP将有着不可估量的发展前景。
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