氧化镓技术之出现
Si,SiC,GaN和Ga 2 O 3 对比
(图片来源:半导体行业观察)
半导体材料特性(郝跃院士)
氧化镓衬底之现状
在国际上,特别是在日本和美国,对Ga2O3这种材料及其潜在应用的兴趣在过去三年中增长非常快。近年来氧化镓晶体生长技术的突破性进展,也极大地推动了相关的薄膜外延、日盲探测器、功率器件、高亮度紫外LED等器件的研究,是国际上超宽禁带半导体领域的研究热点。国家重点研发计划“战略性先进电子材料”重点专项也发布了相关的研究指南“超宽禁带半导体材料与器件研究(基础研究类)”,也极大带动了国内相关科研机构的研究兴趣,近年来,我国科学工作者在氧化镓材料和器件研究方面取得了重要的进展。
AFRL(美国空军研究室)制作的2英寸带有GaN外延层的Synoptics 氧化镓晶体管(Compound Semiconductor)
直径为4英寸的蓝宝石衬底上形成的
Ga 2 O 3薄膜(FLosfia官网)
氧化镓材料之潜力
氧化镓作为继GaN和SiC之后的下一代超宽禁带(UWBG)半导体材料,同时通过熔体法(生长蓝宝石衬底的方法)可以获得低缺陷密度的大尺寸Ga2O3衬底,使得Ga2O3器件的成本相比于GaN以及SiC器件更低。随着高铁、电动汽车以及高压电网输电系统的快速发展,全世界急切的需要具有更高转换效率的高压大功率电子电力器件。Ga2O3功率器件在与GaN和SiC相同的耐压情况下,导通电阻更低、功耗更小、更耐高温、能够极大地节约上述高压器件工作时的电能损失,因此Ga2O3提供了一种更高效更节能的选择。
Si,SiC,GaN和Ga 2 O 3 对比
(图片来源:半导体行业观察)
功率半导体材料对比
(半导体行业观察译自PC.watch)
关键材料(Si,SiC,GaN,GaO)特性对比(IEEE)
β相氧化镓晶体结构(网络)
氧化镓器件之进展
目前氧化镓低缺陷密度衬底已经可以达到4英寸,而在氧化镓衬底上通过MOVPE、MBE及HVPE等原位同质外延获得的外延层具有0.5 nm左右的RMS平整度。氧化镓材料的平均击穿电场已经达到5 MV/cm,水平及纵向垂直氧化镓肖特基二极管分别已经取得了超过3 kV以及2.2 kV的击穿电压。同时,耗尽/增强型背栅MOSFET也取得了超过1.5/1 A/mm的输出电流密度、水平及纵向MOSFET在截止状态下也分别取得了1.8/1 kV的击穿电压以及氧化镓高频器件取得了ft/fmax = 5.1/17.1 GHz。
按步骤划分的Ga 2 O 3 衬底制造成本
(图片来源:半导体行业观察)
在电流和电压需求方面Si,SiC,GaN和GaO功率电子器件的应用
(Flosfia介绍)
GaO与SiC成本对比(EE POWER)
综上,氧化镓是一种新兴的功率半导体材料,其带隙大于硅,氮化镓和碳化硅,但在成为电力电子产品的主要参与者之前,仍需要开展更多的研发和推进工作。
氧化镓衬底之
国瑞升GRISH®抛光方案
北京国瑞升可以提供氧化镓研磨抛的各道加工工艺及耗材,并且根据客户的设备及工艺制定个性化相应的解决方案。针对氧化镓衬底片国瑞升开发了一整套的研磨抛光工艺和抛光耗材,主要涉及单晶/多晶金刚石研磨液、氧化铝抛光液和CMP抛光液,以及聚氨酯研磨垫和阻尼布精抛垫等。
单晶金刚石研磨液
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